Матириалз Лаб, ООО
Компания ООО «Матириалз Лаб» решает научно-технические задачи. Устанавливает и обслуживает
аналитическое, промышленное и исследовательское оборудование. Предлагает готовые
комплексные решения технологических задач для предприятий в различных областях промышленности.
Предоставляем услуги по расчету фазового и химического состава.
ukr | rus | eng
тел: +380(44)596­-06­-25, +380 (67)504-96-94, e-mail: info@materials-lab.com.ua
Лабораторное оборудование


Партнеры
Элватех

CSM Instruments SA

Linseis

Pfeiffer Vacuum GmbH

BIP - Industrietechnik GmbH

OPTIKA MICROSCOPES

Presi

Alexanderwerk AG

FCT-ACTech

PROTO Manufacturing

Lighthouse Worldwide Solutions

 Formulaction

KRUSS GmbH

LaborTech

Endecotts

Across International

CILAS

NanoAmor

СОЛ Инструментс

CAD Instruments

Innovative Sintering Technologies Ltd.

Casella CEL Inc.

МАГНИС ЛТД, НТЦ ООО

WiggenHauser

Seron Technologies Inc.

TTS Unlimited, Inc.

AMETEK Scientific Instruments

Aalborg Instruments & Controls, Inc.

HSR AG

DEWINTER OPTICAL INC


 

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500

 

Спектрометр 21 века! 

LEA-S500 – современный мощный атомно-эмиссионный спектральный прибор с фотоэлектрической регистрацией спектра, объединяющий инновационные технологии в области лазерной, спектральной, измерительной, цифровой техники и программного обеспечения, позволяющий определить элементный (химический) состав пробы за считанные минуты.
Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 1 ррм до 100 %. Масса вещества необходимого для анализа - от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала около 7 минут.

Интуитивно понятное программное обеспечение LEA-S500 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации.

Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний.

Двухимульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Обеспечивается одновременная реализация дугового и искрового режима возбуждения спектров.
Высококачественный светосильный безабберационный спектрограф
с высоким спектральным разрешением гарантирует точные и достоверные измерения

Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне. 

Анализ любых твердых и порошкообразных материалов:

- керамика, стекло, цемент
- металлы и сплавы
- шлаки
- резины, каучуки, пластмассы
- примеси и микроэлементы в чистых материалах
- химические реактивы
- руды, минералы и мономинеральные включения
- природные материалы (глины, пески, доломит, сода, соль и т.д.)
- зола растительного и животного происхождения
- материалы из древесины
- сухой остаток жидкостей
- замороженные жидкости
- почвы
- сухие растительные материалы
и другие материалы.

Качественный анализ - 50 элементов в течение 5 минут.

Полный (многоэлементный) количественный анализ пробы с учетом пробоподготовки - от 1 до 15 минут.

Анализатор элементного состава LEA-S500 позволяет проводить определение химического состава любых твердых проб без перенастройки оборудования. Время перехода от анализа одного типа проб к анализу другого типа проб составляет несколько секунд.

Технические решения прибора гарантируют:

- Правильность и высокую прецизионность определения химического (элементного) состава пробы
- Низкий предел обнаружения элементов
- Анализ различных элементов в любых твердых пробах
- Использование аналитических линий с наилучшей концентрационной чувствительностью, свободных от взаимных спектральных наложений
- Максимальную эффективность использования аналитического светового сигнала
- Удобство в работе и обслуживании
- Безопасную работу и защиту персонала от воздействия вредных факторов

Двухимульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров.

В анализаторе элементного состава LEA – S500 источником света для получения атомного эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов.

Экспериментально установлено, что при воздействии на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивается существенный рост интенсивности и стабильности спектральных линий в сравнении с одноимпульсным режимом возбуждения. Данный эффект существенно снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений, расширяет аналитические возможности за счет возбуждения линий с высокой энергией возбуждения.

Cистема регистрации

Использование в спектральных приборах в качестве системы регистрации цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения обусловлено целым рядом преимуществ перед традиционными системами регистрации (фотоэлектронные умножители, фотопластинки и др.). Главные из них: возможность одновременной регистрации широкой области спектра; высокое быстродействие, обеспечивающее регистрацию спектров, возбужденных частотными импульсными источниками, что позволяет осуществлять большое количество измерений за единицу времени (в нашем случае 20 раз в секунду); широкая область спектральной чувствительности; низкие собственные темновые сигналы (шумы); широкий динамический диапазон. В качестве приемника излучения в цифровых камерах чаще всего используют матричные приборы с зарядовой связью (ПЗС), которые относятся к типу фоточувствительных (фотоэлектрических) приборов с переносом заряда (ФППЗ). Квантовая эффективность современных полупроводниковых приемников излучения достигает 90 % и выше.
 
 
Спектрограф производит спектральный анализ излучения. Этот анализ в оптике осуществляется с помощью элементов, отклоняющих лучи разных длин волн на различные углы. (дифракционные решетки, призмы).

Применение

Анализатор элементного состава LEA-S500 применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного (химического) состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий на заводах, а так же в научных исследованиях.

Прибор позволяет проводить как общий усредненный многоэлементный анализ состава пробы, так и локальный анализ малого объема и массы.

Прибор незаменим на предприятиях, где заботятся о здоровье сотрудников.

LEA-S500 обеспечивает безопасный анализ химического состава веществ и материалов. Оператор полностью защищен от воздействия вредных производственных факторов, связанных с анализом.

Для обучения навыкам работы на приборе требуется всего несколько часов.

Описание метода

LIBS (Laser-Induced Breakdown Spectroscopy) – современный аналитический метод элементного анализа, обеспечивающий высокоточный многоэлементный анализ химического состава пробы в режиме реального времени.

Метод основан на возбуждении атомов элементов материала пробы импульсом лазерного излучения, сфокусированным на поверхность пробы, разложении излучения атомов элементов в спектр, измерении аналитических сигналов, пропорциональных интенсивности спектральных линий, и последующем определении массовых долей элементов с помощью градуировочных графиков.

 

 

Спектральный состав излучения лазерной плазмы любого химического элемента неповторим и уникален, что позволяет безошибочно идентифицировать по спектру присутствие элемента в пробе, а по интенсивности спектральной линии определить его концентрацию. Соответственно, спектр многокомпонентного вещества включает спектральные линии всех химических элементов, входящих в его состав.
Анализатор состоит из следующих основных частей: импульсного лазера; системы сбора, передачи и пространственного разложения оптического излучения на монохроматические составляющие – спектрографа; системы регистрации спектров (детектора) – цифровой камеры; программно-аппаратного комплекса (ПАК) управления системой, отображения, архивирования спектров и результатов анализа. 

 

 

 

 

Существует несколько важных этапов количественного определения состава пробы:

- подготовка пробы к анализу
- подбор режимов возбуждения и регистрации спектров
- калибровка (градуировка) прибора по образцам известного состава (стандартным образцам)
- измерение

Перечень нормативной документации (ГОСТ), допускающий использование анализатора элементного состава LEA-S500 в качестве средства измерения.

ГОСТ 18895-97. Сталь. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
ГОСТ Р 54153-2010. Сталь. Метод атомно-эмиссионного спектрального анализа.
ГОСТ 27611-88. Чугун. Метод фотоэлектрического спектрального анализа.
ГОСТ 9716.2-79. Сплавы медно-цинковые. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 20068.2-79. Бронзы безоловянные. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 7727-81. Сплавы алюминиевые. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 23902-79. Сплавы титановые. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 23328-95.Сплавы цинковые. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 30082-93. Сплавы цинк - алюминиевые. Спектральный метод анализа.
ГОСТ 17261-77. Цинк. Спектральный метод анализа.
ГОСТ 31382-2009. Медь. Методы анализа.
ГОСТ 3221 - 85. Алюминий первичный. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 851.10-93. Магний первичный. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля, меди алюминия, марганца, титана, натрия и калия.
ГОСТ 15483.10-2004. Олово. Методы атомно-эмиссионного спектрального анализа.
ГОСТ 8857-77. Свинец. Метод спектрального анализа.
ГОСТ 6012-98. Никель. Методы химико - атомно-эмиссионного спектрального анализа.
ГОСТ 8776-2010. Кобальт. Методы химико - атомно-эмиссионного спектрального анализа.
ГОСТ 9853.23 – 96. Титан губчатый. Спектральный метод определения кремния, железа, никеля.
ГОСТ 14339.5-91. Вольфрам. Методы спектрального анализа.
ГОСТ 23201-78. Глинозем. Метод спектрального анализа.
ГОСТ 25702.18-83. Концентраты редкометаллические. Спектральные методы определения окисей кальция, кремния, магния, ниобия, тантала, титана, циркония, хрома, алюминия бария, железа.
ГОСТ 27973-88. Золото. Методы атомно-эмиссионного анализа.
ГОСТ 28353.1-89. Серебро. Метод атомно-эмиссионного анализа.
ГОСТ 12226-80. Платина. Методы анализа.
ГОСТ 12551–82. Сплавы платино - медные. Методы спектрального анализа.
ГОСТ Р 52371-2005. Баббиты оловянные и свинцовые. Метод атомно-эмиссионной спектрометрии.
ГОСТ Р 54335-2011. Палладий. Метод атомно-эмиссионного анализа с искровым возбуждением спектра.
ГОСТ 12223.0-76. Иридий. Метод спектрального анализа.
ГОСТ 12227.0-77. Родий. Метод спектрального анализа.
ГОСТ 9519.1-77. Баббиты кальциевые. Метод спектрального анализа по литым металлическим стандартным образцам.
ГОСТ 1429.14 -2004. Припои оловянно-свинцовые. Методы атомно - эмиссионного спектрального анализа.
ГОСТ 5905-2004. Хром металлический. Технические требования и условия поставки.
ГОСТ 13348-74. Сплавы свинцово-сурьмянистые. Метод спектрального анализа.
МВИ МН3985-2011 РБ. Методика выполнения измерений химического состава стёкол и других материалов.

Дополнительная информация на сайте производителя:

http://solinstruments.com/ru/analysis/elemental-analys/lea-s500/description

 

 

Структурная схема определение химического состава пробы (LIBS)

 

fig1 opisanie metoda shema obsch

 

  fig2 blok-shema LEA ru

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Купить приборы SOL instruments для элементного анализа. Для того, чтобы узнать цену, комплектацию и возможность приобретения лазерного анализатора элементного состава в Украине, свяжитесь, пожалуйста, с нашими инженерами.



 

 © 2012 ООО "Матириалз Лаб"
04073, г. Киев, Украина ул. Куреневская 18 skype: materials.lab тел: +380(44)596-06-25,
+380 (67)504-96-94, факс: +380(44)596-06-26, e-mail: info@materials-lab.com.ua
Разработка сайта и хостинг:
Интерактивные системы