Menu
Your Cart

Электронные микроскопы с FIB-SEM

Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER
Ultra-high-resolution non-immersion scanning electron microscope combined with a high-precision ion column for sample modification, analysis of both surface and deeper layers of the sample, and 3D analysis, allowing material parameters to be determined at the nanoscale. TESCAN AMBER is designed w..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и неиммерсионной электронной колонной с ультравысоким разрешением для исследований широкого круга материалов.TESCAN AMBER X – аналитический двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп с п..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM со сверхвысоким разрешением для исследований и модификации образцов в области современных нанотехнологий.TESCAN SOLARIS – это самодостаточный инструмент FIB-SEM для изготовления наноструктур и функциональных устройств микромасштаба, разработ..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и электронной колонной сверхвысокого разрешения. Широкоформатные поперечные сечения ионным пучком для анализа отказов многокомпонентных изделий в собранном виде.Ключевые преимуществаИзготовление..
0грн.
Showing 1 to 4 of 4 (1 Pages)