Menu
Your Cart

Электронные микроскопы с FIB-SEM

Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER
Неиммерсионный сканирующий электронный микроскоп с ультравысоким разрешением в сочетании с высокопрецизионной ионной колонной для модификации образцов, анализа как поверхностных, так и более глубоких слоёв образца и 3D-анализа, позволяющий определять параметры материалов на наноуровне.TESCAN AMBER р..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и неиммерсионной электронной колонной с ультравысоким разрешением для исследований широкого круга материалов.TESCAN AMBER X – аналитический двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп с п..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM со сверхвысоким разрешением для исследований и модификации образцов в области современных нанотехнологий.TESCAN SOLARIS – это самодостаточный инструмент FIB-SEM для изготовления наноструктур и функциональных устройств микромасштаба, разработ..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и электронной колонной сверхвысокого разрешения. Широкоформатные поперечные сечения ионным пучком для анализа отказов многокомпонентных изделий в собранном виде.Ключевые преимуществаИзготовление..
0грн.
Showing 1 to 4 of 4 (1 Pages)