Menu
Your Cart

TESCAN CLARA

TESCAN CLARA
TESCAN CLARA

TESCAN CLARA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с мультидетекторной системой внутри электронной колонны. Позволяющий получать высококачественные изображения и проводить микроанализ, что является весьма актуальным в различных областях исследований и технологий. В СЭМ TESCAN CLARA используется технология TESCAN BrightBeam™, при которой объективная линза сочетает в себе магнитную и электростатическую линзы, что позволяет получать изображения с ультравысоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и при отсутствии вокруг образца магнитных полей, благодаря чему нет ограничений на свойства образца. Можно изучать все виды образцов, включая магнитные.

Ключевые преимущества

  • Уникальная система детектирования In-Beam BSE позволяет фильтровать вторичные сигналы как по энергиям, так и по углу разлёта
  • Неиммерсионная электронная оптика для исследований материалов при низких энергиях пучка электронов и с ярким топографическим контрастом
  • Отлично подходит для исследований чувствительных к пучку электронов и плохо проводящих электрический ток образцов
  • Быстрая юстировка электронной колонны – получение изображений высокого качества и одновременное проведение аналитических исследований гарантированы технологией In-Flight Beam Tracing™
  • Удобная и точная СЭМ-навигация по образцу в реальном времени при небольшом увеличении без необходимости использовать дополнительную оптическую навигационную камеру
  • Интуитивно понятное модульное программное обеспечение Essence™ для лёгкой работы независимо от уровня опыта пользователя

TESCAN CLARA оснащен уникальной мультидетекторной системой внутри электронной колонны, что позволяет регистрировать электроны с селекцией по углу их вылета и по энергиям, что дает предельно много информации о топографии образца и композиционных отличиях. Мультидетектор, оснащённый сеткой с регулируемым потенциалом смещения, позволяет проводить фильтрацию между вторичными (SE) и обратно отражёнными (BSE) электронами по энергетическому признаку, что повышает материальный контраст, а также дает возможность быстро переключаться между этими сигналами. Второй приосевой детектор Axial, также встроенный в электронную колонну, предназначен для эффективного сбора SE-сигнала при активации потенциальной трубки внутри колонны, SE-сигнал регистрируется без потерь при любых энергиях приземления электронного пучка. Это делает получение SE-изображений с ультравысоким разрешением рутинной задачей даже при низких энергиях приземления пучка электронов.

Кроме того, микроскоп TESCAN CLARA может быть оснащён двумя внутрикамерными детекторами: SE-детектором типа Эверхарта-Торнли в стандартной комплектации для топографического контраста с высоким уровнем сигнала и опциональным выдвижным детектором обратно отраженных электронов, чувствительным в том числе в области низких энергий первичного пучка. Последний собирает BSE-электроны, рассеянные на широкие углы, и обеспечивает высокий контраст даже при низких ускоряющих напряжениях. TESCAN CLARA также разработан для успешного решения аналитических задач благодаря технологиям In Flight Beam Tracing™ (технология контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров пучка в реальном времени) и Intermediate Lens™ (в качестве устройства смены апертур при регулировке тока пучка используется электромагнитная IML-линза). TESCAN CLARA может поддерживать высокое разрешение даже при больших токах пучка (до 400 нА), что полезно для ежедневных аналитических исследований. Микроскоп TESCAN CLARA – это по-настоящему универсальный инструмент, идеально подходящий для исследований наноматериалов, прецизионного контроля качества в высокотехнологичной промышленности, а также для исследований и разработок.

SYSTEM PARAMETERS
Electron source: катод Шоттки
Resolution 1.4 нм при 1 кэВ 1.2 нм при 1 кэВ (с технологией торможения пучка BDT) * 0.9 нм при 15 кэВ 0.8 нм при 30 кэВ, STEM-детектор *
Magnification непрерывное от 2× до 1 000 000×
Detectors and measuring instruments Измеритель поглощенного тока, включающий в себя функцию датчика касания Внутрикамерный детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли (SE) Встроенный в электронную колонну мультидетектор с возможностью энергетической фильтрации (MD) Встроенный в электронную колонну приосевой детектор вторичных/отраженных электронов (Axial) Сцинтилляционный детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума (LVSTD)* Выдвижной моторизованный детектор отражённых электронов сцинтилляционного типа (R-BSE) * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE-BSE) * 4-сегментный выдвижной моторизованный полупроводниковый детектор отражённых электронов, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE 4Q BSE) * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с водяным охлаждением, устойчив к высоким температурам <800°C * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с Al-покрытием для одновременного детектирования BSE- и катодолюминесцентного излучения (Al-BSE) * Компактный с ручным выдвижением панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения со спектральным диапазоном 350 – 650 нм * Компактный с ручным выдвижением панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения со спектральным диапазоном 185 – 850 нм * Компактный с ручным выдвижением детектор цветной катодолюминесценции Rainbow CL * Выдвижной моторизованный детектор прошедших электронов (R-STEM), изображения светлого поля (BF), тёмного поля (DF) и в рассеянных на большие углы электронах (HADF), держатель для 8 сеточек * EDS – энергодисперсионный спектрометр (интегрированный продукт другого производителя) * EBSD – анализ картин дифракции отражённых электронов (интегрированный продукт другого производителя) * WDS – волнодисперсионный спектрометр (интегрированный продукт другого производителя) *
Electron beam energy range от 200 эВ до 30 кэВ (от 50 эВ с опцией торможения пучка BDT *)
Beam current от 2 пА до 400 нА с непрерывной регулировкой
Number of ports 12+ (количество портов может быть изменено под задачи заказчика)
Maximum field of view более 8 мм при WD = 10 мм, более 50 мм при максимальном WD
Scanning system Время выдержки: 20 нс – 10 мс на пиксель, регулируется ступенчато или непрерывно Варианты сканирования: полный кадр, выделенная область, сканирование по линии и в точке Сдвиг и вращение области сканирования, коррекция наклона поверхности образца Аккумулирование линий или кадров Динамический фокус Аккумулирование кадров с коррекцией дрейфа (DCFA)
Image acquisition (* - optional) Максимальный размер кадра: 16k x 16k пикселей Соотношение сторон изображения: 1:1, 4:3 и 2:1 Сшивка изображений, размер панорам не ограничен (требуется программный модуль Image Snapper) * Одновременное накопление сигналов с нескольких каналов детектирования (вплоть до 8 каналов) Псевдоокрашивание изображений и микширование многоканальных сигналов Множество форматов изображений, включая TIFF, PNG, BMP, JPEG и GIF Глубина градаций серого (динамический диапазон): 8 или 16 бит
0грн.
  • Stock: In Stock
  • Model: TESCAN CLARA