Menu
Your Cart

Електронні мікроскопи з FIB-SEM

Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER
Неіммерсіонний скануючий електронний мікроскоп з ультрависоким дозволом в поєднанні з високоточною іонною колоною для модифікації зразків, аналізу як поверхневих, так і більш глибоких шарів зразка і 3D-аналізу, що дозволяє визначати параметри матеріалів на нанорівні.TESCAN AMBER розроблений з акцент..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN AMBER X
Двопроменевий скануючий електронно-іонний мікроскоп FIB-SEM з плазмовою гарматою в якості джерела іонів і неімерсійною електронною колоною з ультрависоким дозволом для досліджень широкого кола матеріалів.TESCAN AMBER X - аналітичний двопроменевий скануючий електронно-іонний мікроскоп з плазмовою гар..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS
Двопроменевий скануючий електронно-іонний мікроскоп FIB-SEM з надвисокою роздільною здатністю для досліджень і модифікації зразків в області сучасних нанотехнологій.TESCAN SOLARIS - це самодостатній інструмент FIB-SEM для виготовлення наноструктур і функціональних пристроїв мікромасштабах, розроблен..
0грн.
Brand: TЕSCAN Model: TESCAN SOLARIS X
Двопроменевий скануючий електронно-іонний мікроскоп FIB-SEM з плазмовою гарматою в якості джерела іонів і електронною колоною надвисокої роздільної здатності. Широкоформатні поперечні перерізи іонним пучком для аналізу відмов багатокомпонентних виробів в зібраному вигляді.Ключові перевагиВиготовленн..
0грн.
Показано з 1 по 4 із 4 (1 сторінок)