Menu
Your Cart

Дифрактометр високої роздільної здатності

Дифрактометр високої роздільної здатності
Дифрактометр високої роздільної здатності

Рентгенівські дифрактометри надвисокої роздільної здатності для тонких плівок та монокристалічних матеріалів

Використання:

Рентгенівська рефлектометрія (XRR)

аналітичний метод дослідження тонких структур, поверхонь і границь розділу з використанням ефекту повного зовнішнього відбивання рентгенівського випромінювання. 

В дослідженнях тонких плівок одною з прикладних задач рефлектометрії цього типу є створення складних покриттів, що володіють специфічними властивостями, які необхідні для ряду технічних додатків. 

Переваги рентгенівської рефлектометрії заключаються в тому, що вона дозволяє визначити:

    Шероховатість поверхонь і границь поділу середовищь (типовий розмір неоднорідностей - менше 5 нм),

    Товщину шару матеріалу (зазвичай для шарів менше 200 нм),

    Розподіл щільності електронів,

    Внутрішня будова складних структур. 

Отримання кривої качання (ROCKING CURVES)

Дозволяє отримувати залежності інтенсивності відбивання від кута повороту кристалу. 

Картування (маппінг) зворотнього простору

Маппінг зворотнього простору представляє собою метод рентгенівської дифракції високої роздільної здатності для виміру карти зворотнього простору (RSM). Ці карти навколо точок зворотньої гратки дозволяють отримувати додаткову інформаці, окрім інформації, отриманої по однолінійним спектрам, наприклад, криві качання з високою роздільною здатністю. RSM зазвичай використовуються для інтерпритації зміщення піку, уширення піку або їх накладення.


ОПЦІЇ

• Багатошарове паралельно пучкове зеркало

• Германієві монохроматори з 2 і 4 відбиттями

• Ступінь X, Y

• Ступінь нахилу Rx, Ry

• Eulerian Cradle з кутом phi, що обертається

• In-plane скануючий детектор

• Автоматична щілина для зменшення розходження променю

• Система автоматичного юстування - дозволяє легко перемикатися між різними налаштуваннями

• Комірки/камери для створення спеціальних середовищь

• Спеціальні тримачі зразків які взаємодіють з повітрям


Купити дифрактометр з надвисокою роздільною здатністю. Для того, щоб дізнатися ціну, комплектацію і можливість придбання приладу в Україні, звяжіться, будь ласка нашими інженерами.


Більш детальний опис приладу приведений на сайті виробника

https://www.protoxrd.com/products/high-resolution


0грн.
  • Stock: In Stock
  • Model: Дифрактометрія високої роздільної здатності