Menu
Your Cart

TESCAN VEGA Compact

TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA Compact

TESCAN VEGA Compact - продуктивний аналітичний скануючий електронний мікроскоп (SEM) початкового рівня. Являє собою компактний варіант виконання добре відомого мікроскопа TESCAN VEGA. Завдяки компактній і спрощеної конфігурації, в якій оптимізовані функції обробки зображень і аналізу складу, VEGA Compact стає економічно ефективним рішенням для лабораторій, де пріоритетом є розуміння основних відмінних рис зразків.СЕМ TESCAN VEGA Compact дозволяє отримувати СЕМ-зображення і проводити аналіз елементного складу в реальному часі в одному вікні програмного забезпечення TESCAN Essence ™, що значно спрощує отримання даних як про морфологію поверхні зразка, так і про його локальний елементний склад і робить цей мікроскоп ефективним аналітичним рішенням для проведення регулярного контролю якості матеріалів, аналізу відмов і різних лабораторних досліджень.


Модернізована колона електронного мікроскопа управляється вдосконаленою електронікою, яка забезпечує миттєвий перехід від режиму отримання зображень при великих збільшеннях до режиму дослідження елементного складу зразків без механічної зміни апертур або механічного юстування будь-яких елементів всередині колони. З програмним забезпеченням для енергодисперсійного макроаналізу (EDS), інтегрованим в програму управління мікроскопом (Essence ™ EDS), перехід від отримання зображень до аналізу складів швидкий і легкий. Один клік дозволяє перемикатися між предналаштуваннями, що зберігають всі налаштування параметрів мікроскопа.


Крім того, режим Wide Field Optics ™ гарантує точну навігацію до області інтересу і надає оператору можливість огляду всієї каруселі зразків в реальному часі. Wide Field Optics ™ забезпечує безпрецедентну глибину фокуса і ширину поля зору без використання фотонавігаціі. Одночасно з наглядом фактичної топографії поверхні зразків даний режим дозволяє здійснювати інтуїтивну навігацію по всій їх поверхні. Почніть спостереження у вікні СЕМ в реальному часі з двократним збільшенням для огляду каруселі зразків, потім переходьте до областей, які цікавлять, безперервно змінюючи збільшення в більшу сторону, все це без використання оптичної навігаційної камери. 


Управління мікроскопом TESCAN VEGA Compact здійснюється з програмного забезпечення розрахованого на багато користувачів TESCAN Essence ™, яке має велику кількість інструментів для прискорення аналітичної роботи, таких як функція швидкого пошуку, набори предвстановлень, скасування останньої команди. Програмне забезпечення TESCAN Essence ™ дозволяє користувачеві вибудовувати робочий процес відповідно до його рівнем досвіду і / або конкретними вимогами. Програмне забезпечення TESCAN Essence ™ також дозволяє користувачам налаштовувати екранний інтерфейс таким чином, щоб відображалися тільки ті функції і вікна, які необхідні для конкретної роботи, що допомагає малодосвідченому користувачеві без зусиль отримувати СЕМ-зображення і проводити аналіз елементного складу. Крім того, віртуальна 3D-модель колізій Essence ™ Collision model точно відтворює внутрішній простір камери і відображає в реальному часі розміри, розташування і переміщення столика зі зразками і обладнання, встановленого всередині. Модель Essence ™ Collision model прогнозує небезпеку або безпеку ймовірних переміщень столика щодо частин камери мікроскопа для кожної конкретної процедури зйомки зображення  або проведення аналізу, щоб зіткнення зразків з висувним BSE-детектором було практично неможливо. У стандартну комплектацію VEGA Compact входять детектор вторинних електронів (SE) і 4-сегментний напівпровідниковий детектор відбитих електронів (4Q BSE), які дозволяють отримувати зображення зразка з топографічним і композиційним контрастом відповідно. Обидва сигнали можуть реєструватися одночасно для прискорення процесу отримання зображень. Для лабораторій, які проводять швидкий і рутинний аналіз елементного складу досліджуваних матеріалів, VEGA Compact гарантує умови високого вакууму (10-3 Па) для отримання якісних результатів аналізу за допомогою єдиного і простого інтерфейсу. Вакуумна камера VEGA Compact вміщує зразки діаметром понад 100 мм і висотою більше 50 мм.


Описані вище особливості роблять TESCAN VEGA Compact цільовим аналітичним рішенням для контролю якості та вивчення характеристик різних матеріалів як у виробничих, так і в науково-дослідних лабораторіях.

ПАРАМЕТРИ СИСТЕМИ
Джерело електронів: термоемісійний вольфрамовий катод
Роздільна здатність 3 нм при 30 кэВ, детектор SE 8 нм при 3 кэВ, детектор SE 3.5 нм при 30 кэВ, детектор BSE
Збільшення неперервне від 2× до 1 000 000×
Детектори та вимірювачі Вимірювач поглиненого струму, що включає в себе функцію датчика торкання Внутрішньокамерний детектор вторинних електронів типу Еверхарта-Торнлі (SE) 4-сегментний висувний напівпровідниковий детектор відбитих електронів (4Q BSE) EDS - енергодисперсійний спектрометр (інтегрований продукт іншого виробника) *
Внутрішній діаметр камери 230 мм
Діапазон енергій електронного пучка від 200 еВ до 30 кеВ
Струм пучка від 1 пА до 2 мкА з неперервним регулюванням
Кількість портів 6
Максимальне поле огляду 7.7 мм при WD = 10 мм, понад 50 мм при максимальному WD
Система сканування Час витримки: 20 нс – 10 мс на піксель, регулюється ступінчато або неперервно Варіанти сканування: повний кадр, виділена область, сканування по лінії і в точці Зсув та обертання області сканування, корекція нахилу поверхні зразка Акумулювання ліній або кадрів Динамічний фокус Акумулювання кадрів з корекцією дрейфу (DCFA)
Essence™ EDS* (* – опційно) Аналіз елементного змісту доступний в режимі реального часу у живому вікні сканування СЕМ в програмному забезпеченні Essence™ з використанням повністю інтегрованого енергодисперсійного спектрометра (ЭДС). Ручне переміщення* Режими збору даних: спектр із області, черга із спектрів (Point &ID), елементне картування та профілювання Розмір кристалу ЕДС-детектора 30 мм2 Вікно ЕДС-детектора із нітриду кремнію Si3N4 Спектральна роздільна здатність 129 эВ на лінії Mn Kα Кількість варіантів налаштувань обробки імпульсів: 3 Максимальна вхідна швидкість підрахунку: до 1 000 000 імп/сек. Максимальна вихідна швидкість підрахунку: до 300 000 імп/сек. Кількісний аналіз : безеталонний з ZAF-корекцією Вивантаження звітів
Отримання зображень (* - опційно) Максимальний розмір кадру: 16k x 16k пікселів Співвідношення сторін зображення: 1:1, 4:3 та 2:1 Зшивка зображень, розмір панорам не обмежений (потрібен програмний модуль Image Snapper) * Одночасне накопичення сигналів з кількох каналів детектування (аж до 8 каналів) Псевдофарбування зображень і міксування багатоканальних сигналів Безліч форматів зображень, включаючи TIFF, PNG, BMP, JPEG та GIF Глибина градацій сірого (динамічний діапазон): 8 або 16 біт
0грн.
  • Stock: In Stock
  • Model: TESCAN VEGA Compact