Menu
Your Cart

TIMA-X

TIMA-X
TIMA-X

TIMA X - це автоматизована система для проведення швидкого мінералогічного аналізу проб гірських порід, руд, концентратів, хвостів, результатів вилуговування, різноманітних продуктів і напівпродуктів металургійного виробництва. Апаратна інтеграція мікроскопа і енергодисперсійних спектрометрів (EDS) дозволяє збирати одночасно як зображення мінеральних зерен, так і дані про елементний склад цих зерен, в результаті чого відбувається ідентифікація кожного мінерального зерна, а значить визначення мінерального складу зразка, отримання даних про розподіл елементів по мінералах, розподіл зерен або часток за морфологічними ознаками, даних по мінеральних асоціаціях і розкриттях мінералів. У режимі сканування «Пошук яскравих фаз» здійснюється швидкісний пошук важких фаз, що містять елементи платинової групи, золото, срібло, рідкоземельні елементи.


Для підвищення продуктивності і надійності мікроскоп TIMA-X оснащений декількома кремній-дрейфовими енергодисперсійними спектрометрами EDAX Element (аж до 4-х) і багатофункціональним програмним забезпеченням. Спектрометри TIMA-X мають конструкцію, яка підвищує їх чутливість в області легких елементів і підтримує стабільне енергетичне розширення при дуже високих швидкостях підрахунку. Спектрометри повністю сумісні як з системою TIMA, так і з програмним забезпеченням EDAX Quantitative, що дає можливість користувачеві не тільки працювати в ПО TIMA-X, але і проводити звичний рентгеноспектральний мікроаналіз з використанням стандартів за допомогою програмного забезпечення EDAX Quantitative. Програмне забезпечення TIMA-X має низку унікальних функцій, включаючи запатентований алгоритм обробки спектрів, що дозволяє вдосконалити ідентифікацію мінералів і поліпшити виявлення елементів, які містяться в мінералах в малих концентраціях.


Для виробничих завдань, де потрібна висока пропускна здатність, система TIMA-X може бути оснащена автозавантажувачем (AutoLoader ™) - роботизованою системою завантаження зразків для підтримки цілодобового автоматизованого аналізу проб в режимі 24/7 (100 слотів для завантаження епоксидних шайб). Автозавантажувач збільшує продуктивність роботи TIMA-X, перетворюючи мінералогічний аналіз партій зразків в безперервний процес аналізу, при якому не потрібно змінювати зразки ручним способом і не потрібно періодично напускати /відкачувати вакуумну камеру мікроскопа для заміни зразків.


TIMA-X - це система, створена спеціально для гірничо-видобувної та гірничо-переробної промисловості, а також для інститутів відповідного профілю. TIMA-X - це одночасно як гнучкий дослідницький інструмент для академічних мінералогічних досліджень, так і прилад автоматизованого контролю в режимі 24/7 для підвищення ефективності технологічних циклів.


Ключові особливості системи TIMA-X

Система TIMA-X створена на основі скануючого електронного мікроскопа TESCAN MIRA з катодом з польовою емісією типу Шоттки.


TIMA-X випускається з двома типорозмірами камери зразків, що відрізняються кількістю зразків, які можна розмістити за одне завантаження камери: стандартна з маркуванням LM і велика з маркуванням GM.


Інсталюється аж до чотирьох вбудованих енергодисперсійних спектрометрів (EDS) для збільшення продуктивності системи, характеристики EDS:


- детектори типу SDD з охолодженням Пельтьє;

- кристал нового покоління діаметром 30 мм 2, виготовлений по CMOS-технології, розташований всередині герметичної вакуумної області;

- вікно спектрометра з міцного, непористого нітриду кремнію Si3N4, що володіє високою пропускною здатністю;

- поліпшена чутливість до фотонів низьких енергій, що підвищує ефективність реєстрації легких елементів.


Знімні утримувачі зразків, в яких передбачено місце для зафіксованих у вакуумній камері стандартів для калібрування BSE-детектора і EDS-спектрометрів і циліндра Фарадея, що дозволяє підтримувати високу автоматизацію, точність і відтворюваність вимірювань. Примітка: BSE - це back scattered electrons, сигнал зворотно відбитих електронів, BSE-детектор - це основний детектор для отримання електронних зображень. EDS - це energy dispersive spectrometer, енергодисперсійний спектрометр для визначення елементних складів зерен.


Кілька стандартних тримачів зразків та виготовлені на замовлення тримачі для зразків різних форм і розмірів.


Крім обов'язкового в процесі TIMA-сканування накопичення BSE-зображень і EDS-спектрів опціонально можливо синхронне накопичення сигналу вторинних електронів (SE) і сигналу катодолюмінесценції (CL).


Є сумісний з TIMA-X повнофункціональний кількісний рентгеноспектральний мікроаналіз з використанням стандартів в програмному забезпеченні EDAX Quantitative.


Можлива установка на камеру TIMA-X опціональних детекторів: катодолюмінесцентного детектора, хвильодисперсійного спектрометра, раманівського спектрометра.

ПАРАМЕТРИ СИСТЕМИ
Джерело електронів: катод Шоттки
Роздільна здатність Режим високого вакууму SE-детектор 1.2 нм при 30 кеВ 1.5 нм при 15 кеВ 2.5 нм при 3 кеВ 4.5 нм при 1 кеВ Режим високого вакууму BSE-детектор 2.0 нм при 30 кеВ Режим високого вакууму In-beam SE* 1.0 нм при 30 кеВ 1.2 нм при 15 кеВ 2.0 нм при 3 кеВ 3.5 нм при 1 кеВ Режим високого вакууму In-beam BSE* 2.0 нм при 15 кеВ Режим низького вакууму* 2 нм при 30 кеВ, детектор BSE 1.5 нм при 30 кеВ, детектор LVSTD * 3 нм при 3 кеВ, детектор LVSTD *
Збільшення неперервне від 2× до 1 000 000×
Детектори та вимірювачі Внутрішньокамерний детектор вторинних електронів типу Еверхарта-Торнлі (SE) Висувний детектор відбитих електронів сцинтилляційного типу (R-BSE) Вбудований в колону детектор вторинних електронів (In-Beam SE) Вбудований в колону детектор відбитих електронів (In-Beam SE) Вбудований в колону детектор відбитих електронів, чутливий в тому числі в області низьких енергій первинного пучка (LE In-Beam BSE) Детектор вторинних електронів для роботи в режимі низького вакууму (LVSTD) Компактний панахроматичний детектор катодолюмінесцентного випромінювання(Compact CL) Компактний детектор кольорової катодолюмінесценції (Rainbow CL Compact) Детектор відбитих електронів сцинтилляційного типу з Al-покриттям для одночасного детектування BSE- і катодолюмінесцентного випромінювання (Al-BSE) EDS - енергодисперсійний спектрометр (інтегрований продукт іншого виробника) * WDS - спектр збудження люмінесценції (інтегрований продукт іншого виробника) * Характеристики EDS-детекторів до 4-х кремній-дрейфових детекторів Тип кристалу: технологія CMOS Розмір кристалу ЕДС-детектора 30 мм2 Вікно ЕДС-детектора їз нітриду кремнію Si3N4 товщиною менше 100 нм Спектральна роздільна здатність 129 еВ на лінії Mn Kα 10 еВ/канал Діапазон елементів, що розпізнаються детектором от Be до Am Система охолодження - елемент Пельтьє Максимальна вхідна швидкість розрахунку для кожного детектора: до 1 000 000 імп/сек. Аналітична робоча відстань 15 мм
Діапазон енергій електронного пучка від 200 эВ до 30 кэВ
Струм пучка від 2 пА до 400 мкА з неперервним регулюванням
Кількість портів 20+ (кількість портів може бути змінена під задачі замовника)
Максимальне поле огляду 9.8 мм при WD = 15 мм (аналітична робоча відстань) > 50 мм при максимальному WD
Система сканування Час витримки: 20 нс – 10 мс на піксель, регулюється ступінчато або неперервно Варіанти сканування: повний кадр, виділена область, сканування по лінії і в точці Зсув та обертання області сканування, корекція нахилу поверхні зразка Акумулювання ліній або кадрів Динамічний фокус Акумулювання кадрів з корекцією дрейфу (DCFA)
Отримання зображень (* - опційно) Максимальний розмір кадру: 16k x 16k пікселів Співвідношення сторін зображення: 1:1, 4:3 та 2:1 Зшивка зображень, розмір панорам не обмежений (потрібен програмний модуль Image Snapper) * Одночасне накопичення сигналів з кількох каналів детектування (аж до 8 каналів) Псевдофарбування зображень і міксування багатоканальних сигналів Безліч форматів зображень, включаючи TIFF, PNG, BMP, JPEG та GIF Глибина градацій сірого (динамічний діапазон): 8 або 16 біт
0грн.
  • Stock: In Stock
  • Model: TIMA X