Тензиометр BP100

Тензиометр BP100 измеряет поверхностное динамическое натяжение жидкости, как функцию возраста поверхности. Очень быстрый процесс получения информации о смачивании и каплеобразовании.

Области применения

- Разработка ПАВ

- Процессы разбрызгивания

- Очищающие и моющие средства

- Процессы нанесения покрытий и печати

- Процессы при электрохимическом нанесении покрытий

Основные характеристики BP100

- Полностью автоматизированный процесс измерения, благодаря ПО для контроля погружения капилляра

- Непосредственное измерение давления в пузырьке

- Прецизионное измерение возраста поверхности и частоты пузырьков

- Широкие возможности для измерения натяжения поверхностей с разным возрастом, как его функции

- Определение коэффициента адсорбции и диффузии

- Встроенное устройство для изменения давления воздуха

Программное обеспечение позволяет наблюдать за результатами в режиме реального времени. Оно позволяет совместить на одной диаграмме результаты разных измерений, например, для сравнения разных ПАВ или для оценки влияния концентрации ПАВ на скорость снижения поверхностного натяжения.

Кроме временной зависимости поверхностного натяжения возможен расчет равновесного значения согласно уравнению Хуа & Розена (Hua & Rosen), а также коэффициентов диффузии и адсорбции.

Благодаря единой платформе для всех тензиометров KRUSS в обработку данных могут быть включены данные, полученные на базе тензиометров других серий.

Программное обеспечение LabDeskTM

LabDesk позволяет очень быстро сформировать предысторию эксперимента: ввести все необходимые параметры из базы данных или вручную, и запустить процесс. Сканирование результатов и управление процессом полностью управляется ПО. В ходе измерения на мониторе компьютера будет отображаться таблица результатов и/или график в заданных координатах:

- поверхностное натяжение как функция возраста поверхности;

- поверхностное натяжение как функция частоты образования пузырька;

- возраст поверхности как функция частоты образования пузырька;

- максимальное давление как функция частоты образования пузырька.