СКАНИРУЮЩАЯ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКАЯ СИСТЕМА VERSASCAN

Система VersaSCAN представляет собой общую платформу для электрохимических и материаловедческих измерений, способную обеспечить необходимое для этих целей пространственное разрешение. Обычно в электрохимических экспериментах измеряется среднее значение отклика по всей площади контакта электрода и электролита. Маловероятно что испытываемый образец представляет собой гомогенную структуру. Часто у него присутствуют пассивные / активные включения или зоны с выраженными анодными / катодными признаками. Необходимость изучения локальных явлений привела к появлению сканирующей электрохимии.

Проводя измерения с помощью зонда (датчика), находящегося у поверхности образца, исследователь получает результат только от некоторой части образца. Миниатюрный бесконтактный датчик (зонд), находящийся очень близко к поверхности, уменьшает исследуемый объём и обеспечивает высокое пространственное разрешение. Однако, величина сигнала такого отклика требует специальных методов измерения, позволяющих регистрировать измеряемые параметры. В системе VersaSCAN сочетаются проверенные практикой возможности таких изделий АМЕТЕК, как потенциостаты серии VersaSTAT для измерения малых токов и синхронный усилитель Signal Recovery 7230 с широким динамическим диапазоном для выделения полученных слабых сигналов.

Система позиционирования VersaSCAN построена целиком на пьезоэлектрических двигателях, обеспечивающих значительные перемещения (до 100 мм) и превосходное разрешение (50 нм) при малых габаритах.

Для системы позиционирования были разработаны дополнительные интерфейсы, обеспечивающие выполнение ряда экспериментов со сканирующими датчиками, в том числе:

• сканирующая электрохимическая микроскопия (SECM)

• сканирование с вибрирующим электродом (SVET)

• локализованная электрохимическая импедансная спектроскопия (LEIS)

• сканирование с «кельвиновским» зондом (SKP)

• капельное сканирование (SDC)

• оптическое профилирование поверхности (OSP)

• гибкий зонд VS stylus - сканирующая электрохимическая микроскопия с неизменным расстоянием от щупа до поверхности объекта (SECM)

Для всех указанных экспериментов используется одна сканирующая платформа с общим программным комплексом. Благодаря тесной интеграции высокоточной системы позиционирования, дополнительных устройств (измерительных зондов, пьезовибрационных каскадов, лазерных головок) и превосходных средств измерения, включающих потенциостаты и синхронные усилители, в системе VersaSCAN удалось реализовать все упомянутые возможности.

Купить сканирующую систему VERSASCAN. Для того, чтобы узнать цену, комплектацию и возможность приобретения в Украине, свяжитесь, пожалуйста, с нашими инженерами.

Полное техническое описание доступно на сайте производителя:

https://www.ameteksi.com/products/scanningelectrochemicalsystems