-150x150w.jpg)
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN AMBER
Неиммерсионный сканирующий электронный микроскоп с ультравысоким разрешением в сочетании с высокопрецизионной ионной колонной для модификации образцов, анализа как поверхностных, так и более глубоких слоёв образца и 3D-анализа, позволяющий определять параметры материалов на наноуровне.TESCAN AMBER р..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN AMBER X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и неиммерсионной электронной колонной с ультравысоким разрешением для исследований широкого круга материалов.TESCAN AMBER X – аналитический двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп с п..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN CLARA
TESCAN CLARA – сканирующий
электронный микроскоп (СЭМ) с мультидетекторной системой внутри
электронной колонны. Позволяющий получать высококачественные изображения и
проводить микроанализ, что является весьма актуальным в различных областях
исследований и технологий. В СЭМ TESCAN CLARA испо..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN MAGNA
TESCAN MAGNA Сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения с иммерсионной оптикой TriLens™ для исследований наноматериалов.TESCAN MAGNA – это мощный инструмент получения изображений с ультравысоким разрешением для наблюдений поверхностных свойств наноматериалов. Сканирующий электронный ..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN MIRA
TESCAN MIRA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени в одном окне программного обеспечения TESCAN Essence™, что значительно упрощает получение данных как о морфологи..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN SOLARIS
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM со сверхвысоким разрешением для исследований и модификации образцов в области современных нанотехнологий.TESCAN SOLARIS – это самодостаточный инструмент FIB-SEM для изготовления наноструктур и функциональных устройств микромасштаба, разработ..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN SOLARIS X
Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп FIB-SEM с плазменной пушкой в качестве источника ионов и электронной колонной сверхвысокого разрешения. Широкоформатные поперечные сечения ионным пучком для анализа отказов многокомпонентных изделий в собранном виде.Ключевые преимуществаИзготовление..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN VEGA
TESCAN VEGA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения с термоэмиссионным вольфрамовым катодомАналитический сканирующий электронный микроскоп для рутинных исследовательских задач и контроля качества на микроуровне.Ключевые преимущества:Плавный переход без дополнительных юстировок..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TESCAN VEGA Compact
TESCAN VEGA Compact – производительный аналитический сканирующий электронный микроскоп (SEM) начального уровня. Представляет из себя компактный вариант исполнения хорошо известного микроскопа TESCAN VEGA. Благодаря компактной и упрощенной конфигурации, в которой оптимизированы функции обработки изоб..
0грн.
Brand: TЕSCAN
Model: TIMA X
TIMA X – это автоматизированная система для проведения быстрого минералогического анализа проб горных пород, руд, концентратов, хвостов, результатов выщелачивания, разнообразных продуктов и полупродуктов металлургического производства. Аппаратная интеграция микроскопа и энергодисперсионных спек..
0грн.
Показано с 1 по 10 из 10 (всего 1 страниц)