Menu
Your Cart

TESCAN CLARA

TESCAN CLARA
TESCAN CLARA

TESCAN CLARA is a scanning electron microscope (SEM) with a multi-detector system inside an electron column. Allows to obtain high-quality images and conduct microanalysis, which is very relevant in various fields of research and technology. The TESCAN CLARA SEM uses TESCAN BrightBeam ™ technology, in which an objective lens combines a magnetic and electrostatic lens to produce ultra-high resolution images at low acceleration voltages and no magnetic fields around the sample, so there is no restriction on sample properties. All kinds of samples can be studied, including magnetic ones.

Key Benefits

The unique In-Beam BSE detection system allows you to filter secondary signals both in energy and in the angle of spread

Non-immersion electronic optics for materials research at low electron beam energies and with bright topographic contrast

Excellent for examining electron beam sensitive and poorly conductive samples

Fast electron column alignment - high quality imaging and analytical studies are guaranteed with In-Flight Beam Tracing ™

Convenient and accurate SEM navigation of the sample in real time at low magnification without the need for an additional optical navigation camera Intuitive modular Essence ™ software for easy operation regardless of user experience level

TESCAN CLARA is equipped with a unique multi-detector system inside the electron column, which allows registration of electrons with selection by their emission angles and energies, which provides a lot of information about the topography of the sample and compositional differences. The multidetector, equipped with a grid with an adjustable bias potential, allows filtering between secondary (SE) and back-reflected (BSE) electrons according to energy characteristics, which increases the material contrast, and also makes it possible to quickly switch between these signals. The second axial detector Axial, also built into the electron column, is designed to efficiently collect the SE signal when a potential tube is activated inside the column; the SE signal is recorded without loss at any energies of the electron beam landing. This makes ultra-high resolution SE imaging a routine task even at low electron beam landing energies.

In addition, the TESCAN CLARA microscope can be equipped with two intra-chamber detectors: the SE-detector of the Everhart-Thornley type as standard for topographic contrast with a high signal level and an optional retractable backscattered electron detector, which is also sensitive in the low-energy range of the primary beam. The latter collects BSE electrons scattered at wide angles and provides high contrast even at low accelerating voltages. TESCAN CLARA is also designed to successfully solve analytical problems thanks to In Flight Beam Tracing ™ (technology for monitoring and optimizing beam performance and parameters in real time) and Intermediate Lens ™ (electromagnetic IML lens is used as aperture changer when adjusting the beam current) ... TESCAN CLARA can maintain high resolution even at high beam currents (up to 400 nA), which is useful for daily analytical studies. The TESCAN CLARA microscope is a truly versatile instrument ideal for nanomaterial research, precision quality control in high-tech industries, and research and development.

SYSTEM PARAMETERS
Electron source: катод Шоттки
Resolution 1.4 нм при 1 кэВ 1.2 нм при 1 кэВ (с технологией торможения пучка BDT) * 0.9 нм при 15 кэВ 0.8 нм при 30 кэВ, STEM-детектор *
Magnification непрерывное от 2× до 1 000 000×
Detectors and measuring instruments Измеритель поглощенного тока, включающий в себя функцию датчика касания Внутрикамерный детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли (SE) Встроенный в электронную колонну мультидетектор с возможностью энергетической фильтрации (MD) Встроенный в электронную колонну приосевой детектор вторичных/отраженных электронов (Axial) Сцинтилляционный детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума (LVSTD)* Выдвижной моторизованный детектор отражённых электронов сцинтилляционного типа (R-BSE) * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE-BSE) * 4-сегментный выдвижной моторизованный полупроводниковый детектор отражённых электронов, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE 4Q BSE) * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с водяным охлаждением, устойчив к высоким температурам <800°C * Выдвижной моторизованный детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с Al-покрытием для одновременного детектирования BSE- и катодолюминесцентного излучения (Al-BSE) * Компактный с ручным выдвижением панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения со спектральным диапазоном 350 – 650 нм * Компактный с ручным выдвижением панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения со спектральным диапазоном 185 – 850 нм * Компактный с ручным выдвижением детектор цветной катодолюминесценции Rainbow CL * Выдвижной моторизованный детектор прошедших электронов (R-STEM), изображения светлого поля (BF), тёмного поля (DF) и в рассеянных на большие углы электронах (HADF), держатель для 8 сеточек * EDS – энергодисперсионный спектрометр (интегрированный продукт другого производителя) * EBSD – анализ картин дифракции отражённых электронов (интегрированный продукт другого производителя) * WDS – волнодисперсионный спектрометр (интегрированный продукт другого производителя) *
Electron beam energy range от 200 эВ до 30 кэВ (от 50 эВ с опцией торможения пучка BDT *)
Beam current от 2 пА до 400 нА с непрерывной регулировкой
Number of ports 12+ (количество портов может быть изменено под задачи заказчика)
Maximum field of view более 8 мм при WD = 10 мм, более 50 мм при максимальном WD
Scanning system Время выдержки: 20 нс – 10 мс на пиксель, регулируется ступенчато или непрерывно Варианты сканирования: полный кадр, выделенная область, сканирование по линии и в точке Сдвиг и вращение области сканирования, коррекция наклона поверхности образца Аккумулирование линий или кадров Динамический фокус Аккумулирование кадров с коррекцией дрейфа (DCFA)
Image acquisition (* - optional) Максимальный размер кадра: 16k x 16k пикселей Соотношение сторон изображения: 1:1, 4:3 и 2:1 Сшивка изображений, размер панорам не ограничен (требуется программный модуль Image Snapper) * Одновременное накопление сигналов с нескольких каналов детектирования (вплоть до 8 каналов) Псевдоокрашивание изображений и микширование многоканальных сигналов Множество форматов изображений, включая TIFF, PNG, BMP, JPEG и GIF Глубина градаций серого (динамический диапазон): 8 или 16 бит
0грн.
  • Stock: In Stock
  • Model: TESCAN CLARA