TIMA X – это автоматизированная система для проведения быстрого минералогического анализа проб горных пород, руд, концентратов, хвостов, результатов выщелачивания, разнообразных продуктов и полупродуктов металлургического производства. Аппаратная интеграция микроскопа и энергодисперсионных спектрометров (EDS) позволяет собирать одновременно как изображения минеральных зёрен, так и данные об элементном составе этих зёрен, в результате чего происходит идентификация каждого минерального зерна, а значит определение минерального состава образца, получение данных о распределении элементов по минералам, распределении зерен или частиц по морфологическим признакам, данных о минеральных ассоциациях и раскрытиях минералов. В режиме сканирования «Поиск ярких фаз» осуществляется скоростной поиск тяжёлых фаз, содержащих элементы платиновой группы, золото, серебро, редкоземельные элементы.
Для повышения производительности и надежности микроскоп TIMA-X оснащён несколькими кремний-дрейфовыми энергодисперсионными спектрометрами EDAX Element (вплоть до 4-х) и многофункциональным программным обеспечением. Спектрометры TIMA-X имеют конструкцию, которая повышает их чувствительность в области лёгких элементов и поддерживает стабильное энергетическое разрешение при очень высоких скоростях счета. Спектрометры полностью совместимы как с системой TIMA, так и с программным обеспечением EDAX Quantitative, что дает возможность пользователю не только работать в ПО TIMA-X, но и проводить привычный рентгеноспектральный микроанализ с использованием стандартов с помощью программного обеспечения EDAX Quantitative. Программное обеспечение TIMA-X обладает рядом уникальных функций, включая запатентованный алгоритм обработки спектров, что позволяет усовершенствовать идентификацию минералов и улучшить выявление элементов, которые содержатся в минералах в малых концентрациях.
Для производственных задач, где требуется высокая пропускная способность, система TIMA-X может быть оснащена автозагрузчиком (AutoLoader™) – роботизированной системой загрузки образцов для поддержания круглосуточного автоматизированного анализа проб в режиме 24/7 (100 слотов для загрузки эпоксидных шайб). Автозагрузчик увеличивает производительность работы TIMA-X, превращая минералогический анализ партий образцов в непрерывный процесс анализа, при котором не требуется менять образцы ручным способом и не требуется периодически напускать/откачивать вакуумную камеру микроскопа для замены образцов.
TIMA-X – это система, созданная специально для горно-добывающей и горно-перерабатывающей промышленности, а также для институтов соответствующего профиля. TIMA-X — это одновременно как гибкий исследовательский инструмент для академических минералогических исследований, так и прибор автоматизированного контроля в режиме 24/7 для повышения эффективности технологических циклов.
Ключевые особенности системы TIMA-X
Система TIMA-X создана на основе сканирующего электронного микроскопа TESCAN MIRA с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки.
TIMA-X выпускается с двумя типоразмерами камеры образцов, отличающимися количеством образцов, которые можно разместить за одну загрузку камеры: стандартная с маркировкой LM и большая с маркировкой GM.
Инсталлируется вплоть до четырёх встроенных энергодисперсионных спектрометров (EDS) для увеличения производительности системы, характеристики EDS:
Съемные держатели образцов, в которых предусмотрено место для зафиксиронных в вакуумной камере стандартов для калибровки BSE-детектора и EDS-спектрометров и цилиндра Фарадея, что позволяет поддерживать высокую автоматизацию, точность и воспроизводимость измерений. Примечание: BSE — это back scattered electrons, сигнал обратно отражённых электронов, BSE-детектор — это основной детектор для получения электронных изображений. EDS — это energy dispersive spectrometer, энергодисперсионный спектрометр для определения элементных составов зёрен.
Несколько стандартных держателей образцов и изготовляемые на заказ держатели для образцов разных форм и размеров.
Помимо обязательного в процессе TIMA-сканирования накопления BSE-изображений и EDS-спектров опционально возможно синхронное накопление сигнала вторичных электронов (SE) и сигнала катодолюминесценции (CL).
Есть совместимый с TIMA-X полнофункциональный количественный рентгеноспектральный микроанализ с использованием стандартов в программном обеспечении EDAX Quantitative.
Возможна установка на камеру TIMA-X опциональных детекторов: катодолюминесцентного детектора, волнодисперсионного спектрометра, рамановского спектрометра.
– детекторы типа SDD с охлаждением Пельтье;
– кристалл нового поколения диаметром 30 мм2, изготовленный по CMOS-технологии, расположенный внутри герметичной вакуумной области;
– окно спектрометра из прочного, непористого нитрида кремния Si3N4, обладающее высокой пропускной способностью;
– улучшенная чувствительность к фотонам низких энергий, что повышает эффективность регистрации легких элементов.
| SYSTEM PARAMETERS | |
| Electron source: | катод Шоттки |
| Resolution | Режим высокого вакуума SE-детектор 1.2 нм при 30 кэВ 1.5 нм при 15 кэВ 2.5 нм при 3 кэВ 4.5 нм при 1 кэВ Режим высокого вакуума BSE-детектор 2.0 нм при 30 кэВ Режим высокого вакуума In-beam SE* 1.0 нм при 30 кэВ 1.2 нм при 15 кэВ 2.0 нм при 3 кэВ 3.5 нм при 1 кэВ Режим высокого вакуума In-beam BSE* 2.0 нм при 15 кэВ Режим низкого вакуума* 2 нм при 30 кэВ, детектор BSE 1.5 нм при 30 кэВ, детектор LVSTD * 3 нм при 3 кэВ, детектор LVSTD * |
| Magnification | непрерывное от 2× до 1 000 000× |
| Detectors and measuring instruments | Внутрикамерный детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли (SE) Выдвижной детектор отражённых электронов сцинтилляционного типа (R-BSE) Встроенный в колонну детектор вторичных электронов (In-Beam SE) Встроенный в колонну детектор отраженных электронов (In-Beam BSE) Встроенный в колонну детектор отраженных электронов, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE In-Beam BSE) Детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума (LVSTD) Компактный панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения (Compact CL) Компактный детектор цветной катодолюминесценции (Rainbow CL Compact) Детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с Al-покрытием для одновременного детектирования BSE- и катодолюминесцентного излучения (Al-BSE) EDS – энергодисперсионный спектрометр стороннего производителя WDS – волнодисперсионный спектрометр стороннего производителя Характеристики EDS-детекторов до 4-х кремний-дрейфовых детекторов Тип кристалла: технология CMOS Размер кристалла ЭДС-детектора 30 мм2 Окно ЭДС-детектора из нитрида кремния Si3N4 толщиной менее 100 нм Спектральное разрешение 129 эВ на линии Mn Kα 10 эВ/канал Диапазон детектируемых элементов от Be до Am Система охлаждения - элемент Пельтье Максимальная входная скорость счета для каждого детектора: до 1 000 000 имп/сек. Аналитическое рабочее расстояние 15 мм |
| Electron beam energy range | от 200 эВ до 30 кэВ |
| Beam current | от 2 пА до 400 нА с непрерывной регулировкой |
| Number of ports | 20+ (количество портов может быть изменено под задачи заказчика) |
| Maximum field of view | 9.8 мм при WD = 15 мм (аналитическое рабочее расстояние) > 50 мм при максимальном WD |
| Scanning system | Время выдержки: 20 нс – 10 мс на пиксель, регулируется ступенчато или непрерывно Варианты сканирования: полный кадр, выделенная область, сканирование по линии и в точке Сдвиг и вращение области сканирования, коррекция наклона поверхности образца Аккумулирование линий или кадров Динамический фокус Аккумулирование кадров с коррекцией дрейфа (DCFA) |
| Image acquisition (* - optional) | Максимальный размер кадра: 16k x 16k пикселей Соотношение сторон изображения: 1:1, 4:3 и 2:1 Сшивка изображений, размер панорам не ограничен (требуется программный модуль Image Snapper) * Одновременное накопление сигналов с нескольких каналов детектирования (вплоть до 8 каналов) Псевдоокрашивание изображений и микширование многоканальных сигналов Множество форматов изображений, включая TIFF, PNG, BMP, JPEG и GIF Глубина градаций серого (динамический диапазон): 8 или 16 бит |
- Stock: In Stock
- Model: TIMA X